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相控阵复合扇扫检测模式

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相控阵复合扇扫检测模式

发布日期:2019-05-07 作者:青岛发现检验技术咨询有限公司 点击:

如下图所示,要想得到一个如下45°到70°的相控阵检测扇形扫查,仪器内部的激发过程是先通过调整激发时间和激发次序得到45°的声束,等45°的声束激发完成,并接收到了想接收的所有信号以后,此时才激发46°的声束。当46°的声束激发完成,并接收到了想接收的所有信号以后,此时才激发47°的声束,以此类推,直到70°声束激发并接收完成。


当从45°到70°全部激发完成后,再次从45°开始下一轮激发,循环往复。

QQ截图20190507082117.png

此时如果前提是使用的仪器是16:128的配置,探头是5L64的,那么如果使用上面的扇扫能够用到探头上所有的64晶片呢?


答案是:否。


也就是由于仪器是16:128通道的,所以一次激发晶片数最多16个,如果做上面的扇扫的话,只能使用64晶片探头中的16晶片进行扇扫,至于使用哪16个晶片可以由使用人员指定,如果此时使用人员指定了1~16晶片进行扇扫,则17~64晶片不激发、不工作。

那如果进行角度线扫,情况又会是怎样的呢?


对于线性扫查,它的激发过程是先激发第一组声束(1~16晶片激发),如果步距为1,则之后激发第二组声束(2~17晶片激发),并以此类推激发3~18, 4~19,一直到最后49~64晶片。

QQ截图20190507082130.png

如果使用上面描述的线扫模式,即使用16:128配置的设备也同样可以使用所有64晶片,但不知道大家有没有发现一个问题,上面的线扫模式只能设置一个固定角度,或者0度,或者45度,或者其他角度。


它无法像扇扫那样形成一个连续变化的角度,比如45~70度,而连续变化的角度可以应对不同方向的缺陷。

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